Anadan olduğu yer | Azərbaycan Respublikası, Bakı ş. | |
Təvəllüdü | 06.05.1976 | |
Bitirdiyi ali təhsil müəssisəsi | Azərbaycan Neft Akademiyası | |
Elmi dərəcəsi | Fizika-riyaziyyat üzrə fəlsəfə doktoru | |
Elmi rütbəsi | ||
Namizədlik (PhD) dissertasiyasının mövzusu:
- ixtisas şifri - ixtisasın adı - mövzunun adı |
01.04.13 Elektrofizika Polimer dielektriklərdə ikinci növ ionların yaranma mexanizmi |
|
Çapdan çıxmış elmi əsərlərinin ümumi sayı
- xaricdə çıxmış elmi əsərlərinin sayı - beynəlxalq bazalarda referatlaşdırılan və indeksləşdirilən jurnallarda çap olunan məqalələrin sayı |
34
10 8 |
|
Müəlliflik şəhadətnamələrinin və patentlərin sayı | 4 | |
Kadr hazırlığı:
- fəlsəfə doktorlarının sayı |
||
Əsas elmi nailiyyətləri | Başlanğıc enerjiyə, bucağa və koordinata görə dağınıqlığa malik ikinci ionların aksial simmetrik elektrik sahəsinin köməyi ilə zamana və məkana görə üç qat ionlaşması şərti | |
Elmi əsərlərinin adları | 1. First International Confe-rence on TPE 2002. Baku, p. 363-365, // Influence of spatial effects on the dispersion characte-ristics of the axial-simmetrcal energy and mass-analy-zer/
2. Электронная обработка материалов, 2002, № 6, с. 62-65, // Исследование зарядового состава ионов в лазерном масс-спектрометрическом анализе твердых веществ/ 3. 16-th Int. Mass-spectromet-ry Conference, Edinburgh, 31 August – September 2003.,// The limitation of dispersion characteristics a Time of Flight mass-analyzer with axial symmetric electric field/ 4. Second Int. Conference on Technical and Physical in Power Engineering. 2004, Tabriz, IRAN, p.527-530. // Chromate mass-spectrome-ters for investigation Ecological condition the Atmosphere./ 5. Fizika, 2005, c. XI, N. 4, c. 43-47,// Kütlə spektrometrinin xarakteristikalarına və ion dəstəsinin parametrlərinin nominal qiymətlərdən kənara çıxmalarının təsiri/ 6. Журнал технической физики, 2007, т. 77, в. 11, с.123-126,// Компенсация объемного заряда ионов во времяпро-летном масс-анализаторе/ 7. Приборы и техника Эксперимента, 2009, № 2, с. 94-97,// Автоматическая корректировка ионов аксиально симметричном масс-анализаторе/ 8. «Журнал технической физики». 2009, т. 79, № 8, с. 99-103,// Зависимость зарядового состава ионов металлов от плотности лазерного излучения при лазерной масс-спектрометрии/ 9. «Письма в ЖТФ». 2009, т. 35, с. 67-74// Пути улучшения аналити-ческих характеристик сек-торных времяпролетных масс-анализаторов/ 10. Электронная обработка материалов,2011,т.47,№3, стр 85-89,// О безэталонном анализе твердых тел искровым масс- спектрометрическим методом/ 11. IV Всероссийская конфе-ренция «Масс-спектро-метрия и ее прикладные проблемы» 05-09 сентября 2011 г.Москва // Дискриминация элементов –примесей твердых тел при масс–спектрометрическом анализе/ 12. International Conference on Technical and Physical problems of Power Engineering// Molecular structure of ions in fluorine contain dielectrics at the secondary ions mass – spectrometry (SIMS)/ 13. International Jourrnal on Technical and Physical problems of Power Engineering, 2013, volume 14, n 1 , p 127 – 131, // Mass - spectrometer for analysis of solids |
|
Respublika, beynəlxalq və xarici ölkələrin elmi qurumlarında üzvlüyü | Ümumrusiya mass-spektrometriya cəmiyyətinin üzvü | |
Pedaqoji fəaliyyəti | ||
Digər fəaliyyəti | ||
Təltif və mükafatları | ||
Əsas iş yeri və ünvanı | AMEA Fizika İnstitutu, AZ1073, Bakı ş., H.Cavid pr., 115 | |
Vəzifəsi | Elmi işçi | |
Xidməti tel. | (+994 12) 5106977 | |
Mobil tel. | (+994 50) 2219789 | |
Ev tel. | (+994 12) 5683749 | |
Faks | ||
Elektron poçtu | nurubez@bp.com |